序号

　　设备名称

　　技术参数与配置要求（参考）

　　数量

　　1

　　多角度纳米粒度与Zeta电位分析仪

　　技术参数:

　　仪器主要性能：

　　1.1 光源：固体或气体激光器，功率≥10mw；

　　1.2 检测器：高灵敏度雪崩光电二极管检测器（APD）；

　　1.3 温度范围：≤0 ~ ≥70 °C；

　　1.4 粘度测量；

　　1.5荧光过滤装置

　　2. 粒径测量技术指标

　　2.1 测量范围：0.4nm ~ 10 μm

　　2.2 测量重复性：1%

　　2.3 检测角度：不少于2个检测角度 ，其中一角度为背散射角

　　2.4 样品浓度：0.1 ppm ~ 40% w/v

　　2.5 样品池体积：≤3mL

　　2.6 微流变性质测量

　　3. Zeta电位测量

　　3.1 适用颗粒尺寸范围: 1 nm ~ 100 μm

　　3.2 电导率范围：0 ~≥150 mS/cm

　　4. 分子量测量

　　4.1测量范围: 1×103 ~ 2×107 Da

　　配置要求：

　　1.  纳米粒度与Zeta电位分析仪主机一台及相关分析软件一套

　　2.  耐腐蚀耐有机溶剂插入式电极一只

　　3.  微流变附件及相关分析软件一套

　　4.  自动滴定仪及相关分析软件一套

　　5.  粘度测量附件及相关分析软件一套

　　6.  荧光过滤装置一套

　　7.  标准样品池200只

　　8.  石英样品池20只

　　9.  粒度/Zeta电位标样一套

　　1

　　2

　　激光纳米颗粒分析仪

　　技术参数：

　　1. 粒径检测范围：10 – 2000 nm

　　2. 浓度检测范围：107 – 109 个/ml

　　3. 光源和检测模块：增强型激光模块                

　　4. 激光光源，488nm

　　5. 温控范围：低于室温5度 - 55°C

　　6. 温控准确性：  1°C 以内

　　7. 提供平均粒径和分布宽度参数

　　8. 提供颗粒浓度信息

　　9. 提供粒径-数量分布，粒径-数量-光强三维分布曲线

　　配置要求：

　　1.检测主机1台，配套样品槽1件。

　　2. 配套分析软件一套。

　　3. 配套计算机一台，液晶显示器至少21英寸，内存8G，酷睿i5处理器，可运行配套的分析软件。

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